|
推荐
|
|
产品图片
供应/公司信息
联系方式
|
|
|
企业简介：
供应光学元件(图)
主营产品： 比色皿;石英比色皿;玻璃比色皿;荧光比色皿;流动比色皿;生化流动比色皿;微量比色皿;光学元件;石英器皿;蒸发皿;坩埚;定量瓶;实验室家具;中央台;边台;通风柜; 企业地址：中国 江苏 宜兴市 和桥镇鹅州南路345号
|
|
在线洽谈：
|
|
|
|
企业简介：
供应光学元件(图)
主营产品： 光学元件;球面镜;柱面镜;透镜;平面镜;反射镜;棱镜;胶合镜;柱透镜;球透镜;石英;滤光片;窗口;氟化钙;石英;胶合镜;反射镜;镀膜;透镜;平面镜; 企业地址：中国 吉林 长春市 高新技术开发区火炬路286号
|
|
在线洽谈：
|
|
|
|
企业简介：
供应稀土抛光粉－光学元件专用
主营产品： 稀土抛光粉;长余辉荧光粉;负离子粉;氧化铈磨料;远红外陶瓷粉;无机紫外吸收剂;导电粉;抗菌粉;载体涂层材料;上转换荧光粉;光触媒;光催化剂;纳米氧化铈;纳米氧化钛;纳米氧化铝;氧化铈锆;氧化钇锆;氧化锆抛光粉;氧化铝抛光粉;氧化铈; 企业地址：中国 上海 上海市徐汇区 华泾路1305弄18号
|
|
在线洽谈：
|
|
|
|
企业简介：
供应球面光学元件光谱分析仪
主营产品： 光谱仪;光纤光谱仪;近红外光谱仪;荧光光谱仪;拉曼光谱仪;USB4000;USB2000;QE65000;NIR256;USB650;Hr4000;HR2000+;USB2000+;HR4000CG;LS-1;光纤;反射率测量;透过率测量;LED测量;在线检测; 企业地址：中国 广东 广州市 天河区五山金颖路一号金颖大厦1711室
|
|
在线洽谈：
|
|
|
|
企业简介：
全自动光学元件光谱分析仪
型号：Planum-3000
用途：用于各类平面光学元件的反射、透射光谱快速测量。可进行多角度相对/{jd1}
反射率、透过率测量，偏振光测量，膜性测量。
适宜测量范围：棱镜、平行平板、镜面等平面光学性能。
技术参数：
波长范围：380-1000nm
n 8º<反射测量角<80 º (根据样品大小尺寸相关)
n 角度分辨率：0.0002 º
n 重复定位精度：<0.005 º
n 旋转{zd0}速度:25 º /s
n 可自动设定不同角度的透过和反射率测量,全自动完成
n 样品尺寸:>5mm
n 测量相对误差<0.6%(400-800nm)(I型)
测量相对误差<0.2%(400-800nm)(II型)
n 可以进行S,P光测量
n 单次测量时间:<100ms
n 信号接口：USB2.0
控制器接口：R232（可转接USB2.0）
n 功耗60W
n 电源：220V-50HZ
n 操作系统Windows
n 设备尺寸:1000mm*485mm*300mm
企业地址：广州市天河区五山金颖路一号金颖大厦1711室
|
|
在线洽谈：
|
|
|
|
企业简介：
全自动光学元件光谱分析仪
型号：Planum-3000
用途：用于各类平面光学元件的反射、透射光谱快速测量。可进行多角度相对/{jd1}
反射率、透过率测量，偏振光测量，膜性测量。
适宜测量范围：棱镜、平行平板、镜面等平面光学性能。
技术参数：
波长范围：380-1000nm
n 8º<反射测量角<80 º (根据样品大小尺寸相关)
n 角度分辨率：0.0002 º
n 重复定位精度：<0.005 º
n 旋转{zd0}速度:25 º /s
n 可自动设定不同角度的透过和反射率测量,全自动完成
n 样品尺寸:>5mm
n 测量相对误差<0.6%(400-800nm)(I型)
测量相对误差<0.2%(400-800nm)(II型)
n 可以进行S,P光测量
n 单次测量时间:<100ms
n 信号接口：USB2.0
控制器接口：R232（可转接USB2.0）
n 功耗60W
n 电源：220V-50HZ
n 操作系统Windows
n 设备尺寸:1000mm*485mm*300mm
企业地址：广州市天河区五山金颖路一号金颖大厦1711室
|
|
在线洽谈：
|
|
|
|
企业简介：
全自动光学元件光谱分析仪
型号：Planum-3000
用途：用于各类平面光学元件的反射、透射光谱快速测量。可进行多角度相对/{jd1}
反射率、透过率测量，偏振光测量，膜性测量。
适宜测量范围：棱镜、平行平板、镜面等平面光学性能。
技术参数：
波长范围：380-1000nm
n 8º<反射测量角<80 º (根据样品大小尺寸相关)
n 角度分辨率：0.0002 º
n 重复定位精度：<0.005 º
n 旋转{zd0}速度:25 º /s
n 可自动设定不同角度的透过和反射率测量,全自动完成
n 样品尺寸:>5mm
n 测量相对误差<0.6%(400-800nm)(I型)
测量相对误差<0.2%(400-800nm)(II型)
n 可以进行S,P光测量
n 单次测量时间:<100ms
n 信号接口：USB2.0
控制器接口：R232（可转接USB2.0）
n 功耗60W
n 电源：220V-50HZ
n 操作系统Windows
n 设备尺寸:1000mm*485mm*300mm
企业地址：广州市天河区五山金颖路一号金颖大厦1711室
|
|
在线洽谈：
|
|
|
|
企业简介：
西安西光光学元件有限责任公司，我公司隶属西光集团控股子公司（原248厂）已建厂50多年。现拥有先进的镀膜机、冷加工设备、监测仪器、产品涉及透镜、棱镜、非球面镜、柱面镜、精密刻划元件、光学树脂镜.偏振片，光学镀膜。异性晶体零件加工、开槽、打孔。及金属精密激光焊接加工，金属机加零件等。
望与各界同仁合作，就光电产品的研制开发和批量生产提供有力的支持。产品涉及透镜、棱镜、非球面镜、柱面镜、精密刻划元件、光学树脂镜.偏振片、产品涉及透镜、棱镜、非球面镜、柱面镜、精密刻划元件、光学树脂镜.偏振片、产品涉及透镜、棱镜、非球面镜、柱面镜、精密刻划元件、光学树脂镜.偏振片。透镜|棱镜|非球面镜|柱面镜|精密刻划元件|光学树脂镜|偏振片|光学镀膜
企业地址：陕西省西安市长乐中路35号
|
|
在线洽谈：
|
|
|
|
企业简介：
全自动光学元件光谱分析仪
型号：Planum-3000
用途：用于各类平面光学元件的反射、透射光谱快速测量。可进行多角度相对/{jd1}
反射率、透过率测量，偏振光测量，膜性测量。
适宜测量范围：棱镜、平行平板、镜面等平面光学性能。
技术参数：
波长范围：380-1000nm
n 8º<反射测量角<80 º (根据样品大小尺寸相关)
n 角度分辨率：0.0002 º
n 重复定位精度：<0.005 º
n 旋转{zd0}速度:25 º /s
n 可自动设定不同角度的透过和反射率测量,全自动完成
n 样品尺寸:>5mm
n 测量相对误差<0.6%(400-800nm)(I型)
测量相对误差<0.2%(400-800nm)(II型)
n 可以进行S,P光测量
n 单次测量时间:<100ms
n 信号接口：USB2.0
控制器接口：R232（可转接USB2.0）
n 功耗60W
n 电源：220V-50HZ
n 操作系统Windows
n 设备尺寸:1000mm*485mm*300mm
企业地址：广州市天河区五山金颖路一号金颖大厦1711室
|
|
在线洽谈：
|
|
|
|
企业简介：
全自动光学元件光谱分析仪
型号：Planum-3000
用途：用于各类平面光学元件的反射、透射光谱快速测量。可进行多角度相对/{jd1}
反射率、透过率测量，偏振光测量，膜性测量。
适宜测量范围：棱镜、平行平板、镜面等平面光学性能。
技术参数：
波长范围：380-1000nm
n 8º<反射测量角<80 º (根据样品大小尺寸相关)
n 角度分辨率：0.0002 º
n 重复定位精度：<0.005 º
n 旋转{zd0}速度:25 º /s
n 可自动设定不同角度的透过和反射率测量,全自动完成
n 样品尺寸:>5mm
n 测量相对误差<0.6%(400-800nm)(I型)
测量相对误差<0.2%(400-800nm)(II型)
n 可以进行S,P光测量
n 单次测量时间:<100ms
n 信号接口：USB2.0
控制器接口：R232（可转接USB2.0）
n 功耗60W
n 电源：220V-50HZ
n 操作系统Windows
n 设备尺寸:1000mm*485mm*300mm
企业地址：广州市天河区五山金颖路一号金颖大厦1711室
|
|
在线洽谈：
|
|
|
|
企业简介：
全自动光学元件光谱分析仪
型号：Planum-3000
用途：用于各类平面光学元件的反射、透射光谱快速测量。可进行多角度相对/{jd1}
反射率、透过率测量，偏振光测量，膜性测量。
适宜测量范围：棱镜、平行平板、镜面等平面光学性能。
技术参数：
波长范围：380-1000nm
n 8º<反射测量角<80 º (根据样品大小尺寸相关)
n 角度分辨率：0.0002 º
n 重复定位精度：<0.005 º
n 旋转{zd0}速度:25 º /s
n 可自动设定不同角度的透过和反射率测量,全自动完成
n 样品尺寸:>5mm
n 测量相对误差<0.6%(400-800nm)(I型)
测量相对误差<0.2%(400-800nm)(II型)
n 可以进行S,P光测量
n 单次测量时间:<100ms
n 信号接口：USB2.0
控制器接口：R232（可转接USB2.0）
n 功耗60W
n 电源：220V-50HZ
n 操作系统Windows
n 设备尺寸:1000mm*485mm*300mm
企业地址：广州市天河区五山金颖路一号金颖大厦1711室
|
|
在线洽谈：
|
|
|
|
企业简介：
全自动光学元件光谱分析仪
型号：Planum-3000
用途：用于各类平面光学元件的反射、透射光谱快速测量。可进行多角度相对/{jd1}
反射率、透过率测量，偏振光测量，膜性测量。
适宜测量范围：棱镜、平行平板、镜面等平面光学性能。
技术参数：
波长范围：380-1000nm
n 8º<反射测量角<80 º (根据样品大小尺寸相关)
n 角度分辨率：0.0002 º
n 重复定位精度：<0.005 º
n 旋转{zd0}速度:25 º /s
n 可自动设定不同角度的透过和反射率测量,全自动完成
n 样品尺寸:>5mm
n 测量相对误差<0.6%(400-800nm)(I型)
测量相对误差<0.2%(400-800nm)(II型)
n 可以进行S,P光测量
n 单次测量时间:<100ms
n 信号接口：USB2.0
控制器接口：R232（可转接USB2.0）
n 功耗60W
n 电源：220V-50HZ
n 操作系统Windows
n 设备尺寸:1000mm*485mm*300mm
企业地址：广州市天河区五山金颖路一号金颖大厦1711室
|
|
在线洽谈：
|
|
|
|
企业简介：
全自动光学元件光谱分析仪
型号：Planum-3000
用途：用于各类平面光学元件的反射、透射光谱快速测量。可进行多角度相对/{jd1}
反射率、透过率测量，偏振光测量，膜性测量。
适宜测量范围：棱镜、平行平板、镜面等平面光学性能。
技术参数：
波长范围：380-1000nm
n 8º<反射测量角<80 º (根据样品大小尺寸相关)
n 角度分辨率：0.0002 º
n 重复定位精度：<0.005 º
n 旋转{zd0}速度:25 º /s
n 可自动设定不同角度的透过和反射率测量,全自动完成
n 样品尺寸:>5mm
n 测量相对误差<0.6%(400-800nm)(I型)
测量相对误差<0.2%(400-800nm)(II型)
n 可以进行S,P光测量
n 单次测量时间:<100ms
n 信号接口：USB2.0
控制器接口：R232（可转接USB2.0）
n 功耗60W
n 电源：220V-50HZ
n 操作系统Windows
n 设备尺寸:1000mm*485mm*300mm
企业地址：广州市天河区五山金颖路一号金颖大厦1711室
|
|
在线洽谈：
|
|
|
|
企业简介：
全自动光学元件光谱分析仪
型号：Planum-3000
用途：用于各类平面光学元件的反射、透射光谱快速测量。可进行多角度相对/{jd1}
反射率、透过率测量，偏振光测量，膜性测量。
适宜测量范围：棱镜、平行平板、镜面等平面光学性能。
技术参数：
波长范围：380-1000nm
n 8º<反射测量角<80 º (根据样品大小尺寸相关)
n 角度分辨率：0.0002 º
n 重复定位精度：<0.005 º
n 旋转{zd0}速度:25 º /s
n 可自动设定不同角度的透过和反射率测量,全自动完成
n 样品尺寸:>5mm
n 测量相对误差<0.6%(400-800nm)(I型)
测量相对误差<0.2%(400-800nm)(II型)
n 可以进行S,P光测量
n 单次测量时间:<100ms
n 信号接口：USB2.0
控制器接口：R232（可转接USB2.0）
n 功耗60W
n 电源：220V-50HZ
n 操作系统Windows
n 设备尺寸:1000mm*485mm*300mm
企业地址：广州市天河区五山金颖路一号金颖大厦1711室
|
|
在线洽谈：
|
|
|
|
企业简介：
全自动光学元件光谱分析仪
型号：Planum-3000
用途：用于各类平面光学元件的反射、透射光谱快速测量。可进行多角度相对/{jd1}
反射率、透过率测量，偏振光测量，膜性测量。
适宜测量范围：棱镜、平行平板、镜面等平面光学性能。
技术参数：
波长范围：380-1000nm
n 8º<反射测量角<80 º (根据样品大小尺寸相关)
n 角度分辨率：0.0002 º
n 重复定位精度：<0.005 º
n 旋转{zd0}速度:25 º /s
n 可自动设定不同角度的透过和反射率测量,全自动完成
n 样品尺寸:>5mm
n 测量相对误差<0.6%(400-800nm)(I型)
测量相对误差<0.2%(400-800nm)(II型)
n 可以进行S,P光测量
n 单次测量时间:<100ms
n 信号接口：USB2.0
控制器接口：R232（可转接USB2.0）
n 功耗60W
n 电源：220V-50HZ
n 操作系统Windows
n 设备尺寸:1000mm*485mm*300mm
企业地址：广州市天河区五山金颖路一号金颖大厦1711室
|
|
在线洽谈：
|
|
